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Investigation of diffusion and electromigration parameters for Cu–Sn intermetallic compounds in Pb-free solders using simulated annealing |
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期刊:Acta Materialia 作者:Brook Chao; Seung-Hyun Chae; Xuefeng Zhang; Kuan-Hsun Lu; Jay Im; et al 出版日期:2007-05-01 |
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