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Development of a Modular Active Probe Card Equipment for Wafer-Level Multiparameter Fast Characterization and Prediction of High-Q MEMS Gyroscopes |
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期刊:IEEE Sensors Journal 作者:Yang Zhao; Q. Shi; Guoming Xia; Jinyang Huang; Anping Qiu 出版日期:2026-06-01 |
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(2025-6-4)