Comparison between the Electrical Properties and Structures after Atmosphere Annealing and Vacuum Annealing of IGZO Thin Films

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标题	Comparison between the Electrical Properties and Structures after Atmosphere Annealing and Vacuum Annealing of IGZO Thin Films
网址	https://doi.org/10.21186/IPR.2016.1.1.007
DOI	10.21186/ipr.2016.1.1.007 doi
其它	期刊：Industry Promotion Research 作者：Ann, Young Deuk; Yeon, Jae Ho; Oh, Teresa 出版日期：2016-01-31
求助人	初景在 2026-07-02 10:27:39 发布自浙江，悬赏 10 积分
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