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 Impact of Saturated Spontaneous Polarization on the Endurance Fatigue of Si FeFET With Metal/Ferroelectric/Interlayer/Si Gate Structure |
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Min Liao; Hao Xu; Jiahui Duan; Shujing Zhao; Fengbin Tian; et al 出版日期：2023-06-26 |
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