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Total Ionizing Dose Effects in 30-V Split-Gate Trench VDMOS
30V分裂栅沟槽VDMOS的总电离剂量效应
相关领域
栅氧化层
氧化物
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期刊:IEEE transactions on nuclear science 作者:Ruidi Wang; Zhixuan Li; Ming Qiao; Xin Zhou; Tianqi Wang; et al 出版日期:2020-09-01 |
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