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 Evaluation of Timepix3 with a 1 mm thick silicon sensor as a Compton imaging polarimeter in the hard X-ray band 使用1 mm厚硅传感器作为硬X射线波段康普顿成像旋光仪的Timepix3的评估
相关领域
旋光计
硅
光学
材料科学
X射线
物理
旋光法
光电子学
散射
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期刊：Journal of Instrumentation 作者：Jindřich Jelínek; B. Bergmann; P. Smolyanskiy 出版日期：2025-02-01 |
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