标题 |
![]() 用X射线反射率测定有机发光二极管中粗糙层的层形貌
相关领域
X射线反射率
材料科学
有机发光二极管
图层(电子)
氧化铟锡
光电子学
表面光洁度
光学
表面粗糙度
平滑的
薄膜
纳米技术
复合材料
计算机科学
计算机视觉
物理
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Engineering Reports 作者:I. M. Sachs; Marc Fuhrmann; Wim Deferme; Hildegard Möbius 出版日期:2022-11-20 |
求助人 |
luna
在
2025-08-25 13:44:26 发布,悬赏 10 积分
|
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|