| 标题 |
 专利、报告等 A Correlative Indoor-Outdoor Study of Degradation Mechanisms in Silicon Heterojunction and TOPCon Modules: Benchmarking Against PERC and Evaluating Bill-of-Materials Dependence 相关领域
降级（电信）
材料科学
硅
异质结
光伏系统
光电子学
共发射极
复合材料
多晶硅
电气工程
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| 网址 | |
| DOI |
10.2139/ssrn.6643272
doi
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| 其它 |
期刊： 作者：Amir A. Abdallah; M. Kivambe; Mohamed Abdelrahim; Mohamed Elgaili; Kevin Fellicious; et al 出版日期：2026-04-25 |
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