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An analysis of bipolar breakdown and its application to the design of ESD protection circuits 相关领域
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期刊:2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual (Cat. No.00CH37167) 作者:S. Joshi; R. Ida; P. Givelin; E. Rosenbaum 出版日期:2002-11-13 |
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