Investigation of charge carrier dynamics in silicon wafers using terahertz imaging spectroscopy

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标题	Investigation of charge carrier dynamics in silicon wafers using terahertz imaging spectroscopy
网址	http://dx.doi.org/10.1109/i2mtc.2012.6229574
DOI	10.1109/i2mtc.2012.6229574 doi
其它	期刊：2012 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings 作者：Thomas Arnold; Martin De Biasio; Wolfgang Muhleisen; Raimund Leitner 出版日期：2012-05-01
求助人	张均旗在 2026-06-30 10:35:38 发布自广东，悬赏 10 积分
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