| 标题 |
Error source sensitivity analysis in model-based coherence scanning interferometry for thin-film metrology |
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| DOI |
10.1364/ao.561719
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| 其它 |
期刊:Applied Optics 作者:Lei Xu; Cheng Chen; Rong Su 出版日期:2025-05-12 |
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(2025-6-4)