Fault Injection Attacks Exploiting High Voltage Pulsing over Si-Substrate Backside of IC chips

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标题	Fault Injection Attacks Exploiting High Voltage Pulsing over Si-Substrate Backside of IC chips
网址	https://doi.org/10.1109/FDTC64268.2024.00014
DOI	10.1109/FDTC64268.2024.00014 doi
其它	期刊：2024 Workshop on Fault Detection and Tolerance in Cryptography (FDTC) 作者：Yusuke Hayashi; Rikuu Hasegawa; Takuya Wadatsumi; Kazuki Monta; Takuji Miki; Makoto Nagata 出版日期：2024
求助人	噜噜大王在 2026-03-08 19:34:39 发布自黑龙江，悬赏 10 积分
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