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![]() 溅射功率对Al0.7Sc 0.3 N铁电薄膜开关和可靠性的影响
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Ryota Shibukawa; Sung‐Lin Tsai; Takuya Hoshii; Hitoshi Wakabayashi; Kazuo Tsutsui; et al 出版日期:2022-03-14 |
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