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Epitaxial Strain Control of HfxZr1-xO2 with Sub-nm IGZO Seed Layer Achieving EOT=0.44 nm for DRAM Cell Capacitor 用于DRAM单元电容器的具有亚纳米IGZO籽晶层的HfxZr1-xO2的外延应变控制实现EOT=0.44nm
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期刊: 作者:Seongho Kim; Young Keun Park; Gyu Soup Lee; Eui Joong Shin; Woon San Ko; et al 出版日期:2023-06-11 |
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