| 标题 |
Study of γ-ray irradiation influence on TiN/HfO2/Si MOS capacitor by C-V and DLTS |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Superlattices and Microstructures 作者:Yun Li; Yao Ma; Wei Lin; Peng Dong; Zhimei Yang; et al 出版日期:2018-08-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人或该文件上传人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)