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 Stoichiometry, band alignment, and electronic structure of Eu2O3 thin films studied by direct and inverse photoemission: A reevaluation of the electronic band structure 用正向和反向光电发射研究Eu2O3薄膜的化学计量、能带排列和电子结构：电子能带结构的再评价
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Tobias Hadamek; Sylvie Rangan; Jonathan Viereck; Donghan Shin; Agham Posadas; et al 出版日期：2020-02-18 |
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