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Temperature-Dependent Soft-Error Analysis from 300 K to 77 K in Nanosheet and CFET |
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期刊: 作者:SUFIA SHAHIN; HAFEEZ RAZA; AVINASH LAHGERE; YOGESH SINGH CHAUHAN; HUSSAM AMROUCH 出版日期:2026-01-08 |
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(2025-6-4)