| 标题 |
High-sensitivity quantitative Kelvin probe microscopy by noncontact ultra-high-vacuum atomic force microscopy |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Ch. Sommerhalter; Th. W. Matthes; Th. Glatzel; A. Jäger-Waldau; M. Ch. Lux-Steiner 出版日期:1999 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)