| 标题 |
Electron-beam-induced strain within InGaN quantum wells: False indium “cluster” detection in the transmission electron microscope |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:T. M. Smeeton; M. J. Kappers; J. S. Barnard; M. E. Vickers; C. J. Humphreys 出版日期:2003 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)