| 标题 |
 A Process-Robust Split-Gate eFlash Memory with Spacer-Defined Floating Gate in 55-nm Node 相关领域
非易失性存储器
稳健性（进化）
计算机科学
闪存
存储单元
逻辑门
电压
闪光灯（摄影）
嵌入式系统
节点（物理）
过程（计算）
电子工程
静态随机存取存储器
能源消耗
计算机硬件
电气工程
GSM演进的增强数据速率
集成电路
高压
低压
非易失性随机存取存储器
高效能源利用
与非门
随机存取存储器
高能
工程类
电荷陷阱闪光灯
能量（信号处理）
低功耗电子学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Wanyi Ling; Kun Ren; Dianyu Qi; Yongyu Wu; Guangji Li; et al 出版日期：2026-03-12 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Nole
小小牛马
OK
yjh123
张欢馨
东方元语
Criminology34
学术孤儿
失眠翠芙
炜大的我
YifanWang
nn
绕岸垂杨柳
ming2026
你嵙这个期刊没买
lumi
土豆兵
龙06
核桃
Anonymous
皖公网安备34019202002308
