Robustness of the electronic structure and charge transfer in topological insulator Bi2Te2Se and Bi2Se2Te thin films under an external electric field

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标题	Robustness of the electronic structure and charge transfer in topological insulator Bi2Te2Se and Bi2Se2Te thin films under an external electric field 外电场作用下拓扑绝缘体Bi2Te2Se和Bi2Se2Te薄膜电子结构和电荷转移的鲁棒性相关领域薄膜电场材料科学拓扑绝缘体铋费米能级带隙凝聚态物理半导体光电子学纳米技术电子物理量子力学冶金
网址	https://doi.org/10.1039/c9cp06206h
DOI	10.1039/c9cp06206h doi
其它	期刊：Physical Chemistry Chemical Physics 作者：Yurong Ruan; Lu Huang; Yanmin Yang; Guigui Xu; Kehua Zhong; et al 出版日期：2020-01-01
求助人	庞mou 在 2025-03-12 21:32:42 发布自广东，悬赏 10 积分
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