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 Raman characterization of structural disorder and residual strains in micromachined GaAs 微加工GaAss结构无序和残余应变的拉曼特征
相关领域
拉曼光谱
材料科学
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：P.S. Pizani; F. Lanciotti; Renato Goulart Jasinevicius; Jaime Gilberto Duduch; Arthur José Vieira Porto 出版日期：2000-02-01 |
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