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Identifying the Predominant Leakage Channel under Low Reverse Bias for β-Ga 2 O 3 Vertical Device Epitaxy on the (010) Plane |
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期刊:Crystal Growth & Design 作者:Jing Di; Hezhi Zhang; Zishi Wang; Chunlei Tao; Wenxiang Mu; et al 出版日期:2026-03-24 |
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(2025-6-4)