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 A 40-nm Embedded Flash With Highly Reliable Bitline Transmission and Low-Voltage Current Sense Amplifier 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 作者：Tao Xu; Guoji Qiu; Zhiyuan Hu; Zhengxuan Zhang; Dawei Bi 出版日期：2025-10-29 |
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(2025-6-4)
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