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 Off‐State Drain Leakage Current Mechanism in GaN High Electron Mobility Transistors from Thermal Storage Test GaN高电子迁移率晶体管的关态漏电流机制
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高电子迁移率晶体管
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期刊：physica status solidi (a) 作者：Jayjit Mukherjee; Rupesh K. Chaubey; D. S. Rawal; R. S. Dhaka 出版日期：2022-08-09 |
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