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Direct barrier evaluation method for SiC devices with junction barrier Schottky structures demonstrated with quasi-continuous spacing variation 准连续间距变化的结势垒肖特基结构SiC器件的直接势垒评估方法
相关领域
肖特基势垒
材料科学
肖特基二极管
碳化硅
饱和电流
光电子学
二极管
线性
电子工程
工程类
电气工程
复合材料
电压
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期刊:AIP Advances 作者:Hu Long; Na Ren; Kuang Sheng 出版日期:2022-08-01 |
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