| 标题 |
Structural and piezoelectric properties of AlN thin films grown by pressure gradient sputtering 压力梯度溅射生长AlN薄膜的结构和压电性能
相关领域
材料科学
溅射
压电
氮化物
基质(水族馆)
薄膜
表面粗糙度
表面光洁度
氮化铝
电介质
铝
复合材料
分析化学(期刊)
光电子学
纳米技术
化学
图层(电子)
色谱法
地质学
海洋学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Yoshikazu Terai; Kengo Haraguchi; Ryo Ichinose; Hiroki Oota; Ken Yonezawa 出版日期:2022-06-06 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|