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Single-Event Upset Cross-Section Trends for D-FFs at the 5- and 7-nm Bulk FinFET Technology Nodes
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网址
https://doi.org/10.1109/tns.2022.3226210
AI链接 ieee.orgdoi.org
DOI
10.1109/tns.2022.3226210 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science
作者：Yoni Xiong; Nicholas J. Pieper; A. Feeley; Balaji Narasimham; Dennis R. Ball; et al
出版日期：2022-12-01
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浪味仙 在 2026-01-09 11:18:48 发布自安徽，悬赏 10 积分
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