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Failure Mechanisms and Electrical Parameter Degradation of Ga 2 O 3 SBD and HJBS Under Surge Current Stress |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Mingfei Li; Sheng Li; Linpu Yang; Kang Yu; Rui Shen; et al 出版日期:2026-01-01 |
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(2025-6-4)