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Self-Heating-Effect-Induced Degradation Behaviors in a-InGaZnO Thin-Film Transistors |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Tien-Yu Hsieh; Ting-Chang Chang; Te-Chih Chen; Yu-Te Chen; Ming-Yen Tsai; et al 出版日期:2013-01-01 |
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