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 High‐Quality Ceramic Polycrystalline Wafers Fabricated by High‐Temperature Sintering for Sensitive and Ultrastable X‐Ray Detection 相关领域
材料科学
陶瓷
薄脆饼
光电子学
微晶
烧结
探测器
X射线探测器
热的
图像分辨率
氧化物
复合材料
工作温度
电介质
耐久性
单晶
粒子探测器
稳健性（进化）
高分辨率
灵敏度（控制系统）
工程物理
纳米技术
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| 其它 |
期刊：Advanced Optical Materials 作者：Ji Yu; Chengyuan Wang; Guannan Li; Ruoning Zheng; Yinxian Luo; et al 出版日期：2025-10-31 |
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(2025-6-4)
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