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 Characteristics of noise degradation and recovery in gamma-irradiated SOI nMOSFET with in-situ thermal annealing 原位热退火γ辐照SOI nMOSFET的噪声退化和恢复特性
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期刊：Solid-State Electronics 作者：Sedki Amor; Valeriya Kilchytska; Farès Tounsi; Nicolás André; Mohsen Machhout; et al 出版日期：2022-04-07 |
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