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 Back-Gate Lumped Resistance Effect on AC Characteristics of FD-SOI MOSFET 背栅集总电阻对FD-SOI MOSFET交流特性的影响
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期刊：IEEE Microwave and Wireless Components Letters 作者：Martin Vanbrabant; Lucas Nyssens; Valeriya Kilchytska; Jean‐Pierre Raskin 出版日期：2022-04-08 |
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