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 Impact of high-k metal oxide as gate dielectric on the certain electrical properties of silicon nanowire field-effect transistors: A simulation study 高k金属氧化物作为栅介质对硅纳米线场效应晶体管某些电学性能影响的模拟研究
相关领域
材料科学
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期刊：Facta universitatis - series Electronics and Energetics 作者：Sanat Kr. Das; Bibek Chettri; Prasanna Karki; Bhakta Kunwar; Pronita Chettri; et al 出版日期：2023-01-01 |
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何敏
在
2025-08-29 12:44:04 发布，悬赏 10 积分
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