| 标题 |
Influence of Bulk Doping and Halos on the TID Response of I/O and Core 150 nm nMOSFETs 体掺杂和晕对I/O和核心150 nm NMOSFET TID响应的影响
相关领域
跨导
材料科学
阈下传导
浅沟隔离
光电子学
阈值电压
兴奋剂
MOSFET
泄漏(经济)
阈下斜率
晶体管
CMOS芯片
沟槽
电气工程
电压
纳米技术
工程类
宏观经济学
经济
图层(电子)
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Electronics 作者:Stefano Bonaldo; S. Mattiazzo; Marta Bagatin; A. Paccagnella; G. Margutti; et al 出版日期:2023-01-20 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|