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Polarized X-ray diffraction anomalous near-edge structure study on the orbital physics of thin WSe2 layers 相关领域
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期刊:Journal of Applied Crystallography 作者:Shih-Lun Chen; Tai‐Sing Wu; Hung‐Lung Huang; Sheng‐Fu Chen; Y. L. Soo; et al 出版日期:2024-03-15 |
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