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Investigation on critical crack-free cutting depth for single crystal silicon slicing with fixed abrasive wire saw based on the scratching machining experiments 基于划痕加工实验的单晶硅固定线锯无裂纹临界切削深度研究
相关领域
材料科学
磨料
切片
机械加工
脆性
薄脆饼
复合材料
刮伤
磨料加工
刮擦
冶金
硅
机械工程
纳米技术
工程类
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| 其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Mengran Ge; Hongtao Zhu; Chuanzhen Huang; Ao Liu; Wenbo Bi 出版日期:2018-02-01 |
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