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 Subsurface damage detection of optical elements by analyzing the photobleaching properties of quantum dots 基于量子点光漂白特性的光学元件亚表面损伤检测
相关领域
量子点
光漂白
材料科学
光电子学
纳米技术
物理
光学
荧光
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| 其它 |
期刊：Precision Engineering 作者：Yana Cui; Chunyang Wang; Xuelian Liu; Rongting Gao; Tiantian Li 出版日期：2022-05-11 |
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