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A comparative study of self-heating effects in 3nm node GAAFETs and FinFETs 3nm节点GAAFETs和FinFETs自热效应的比较研究
相关领域
节点(物理)
消散
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期刊:2022 IEEE 16th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT) 作者:Pan Zhao; Songhan Zhao; Yandong He; Gang Du 出版日期:2022-10-25 |
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