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Concentration of Fluorine Atoms and Kinetics of Reactive-Ion Etching of Silicon in CF4 + O2, CHF3 + O2, and C4F8 + O2 Mixtures |
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期刊:Russian Microelectronics 作者:Alexander Efremov; A. V. Bobylev; Kwang‐Ho Kwon 出版日期:2023-08-01 |
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(2025-6-4)