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 Atomic-Scale Investigation of Electromigration with Different Directions of Electron Flow into High-Density Nanotwinned Copper through In Situ HRTEM 相关领域
电迁移
高分辨率透射电子显微镜
材料科学
垂直的
电子
透射电子显微镜
原子单位
微观结构
凝聚态物理
纳米技术
复合材料
物理
几何学
数学
量子力学
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| 其它 |
期刊：Acta Materialia 作者：Fang-Chun Shen; Chih‐Yang Huang; Hung-Yang Lo; Wei-You Hsu; Chien-Hua Wang; et al 出版日期：2021-08-15 |
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