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Impact of Trapped Charge Vertical Loss and Lateral Migration on Lifetime Estimation of 3-D NAND Flash Memories |
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期刊: 作者:Y. H. Liu; T. C. Zhan; Yu-Siang Yang; Chih-Chieh Hsu; A. C. Liu; et al 出版日期:2023-03-01 |
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(2025-6-4)