Analysis and Characterization of Intermittent Gate Leakage in a FinFET SRAM

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标题	Analysis and Characterization of Intermittent Gate Leakage in a FinFET SRAM
网址	http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2025p0375
DOI	10.31399/asm.cp.istfa2025p0375 doi
其它	期刊：International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者：Gregory Hornicek; David Albert; Stephen Wu; Michael Tenney; Malik Ali 出版日期：2025-11-16
求助人	俊逸的裘在 2026-08-20 14:37:44 发布自湖北，悬赏 10 积分
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