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Ion Migration: A “Double‐Edged Sword” for Halide‐Perovskite‐Based Electronic Devices 离子迁移:卤化物-钙钛矿基电子器件的“双刃剑”
相关领域
卤化物
钝化
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期刊:Small methods 作者:Teng Zhang; Chen Hu; Shihe Yang 出版日期:2019-11-28 |
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