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  Self-compliance RRAM characteristics using a novel W/TaO x /TiN structure 基于新型W/TaO x/TiN结构的自顺应RRAM特性
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期刊：Nanoscale Research Letters 作者：S. Maikap; Debanjan Jana; Mrinmoy Dutta; Amit Prakash 出版日期：2014-06-10 |
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