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 Line roughness estimation and Poisson denoising in scanning electron microscope images using deep learning 基于深度学习的扫描电镜图像线粗糙度估计及泊松去噪
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期刊：Journal of Micro-nanolithography Mems and Moems 作者：Narendra Chaudhary; Serap A. Savari; Sai Swaroop Yeddulapalli 出版日期：2019-04-29 |
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