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 Automated reliability calculation of failure rate, lifetime extrapolation and prediction for embedded Metal-Insulator-Metal capacitors using an optimized Time-Dependent-Dielectric-Breakdown model 使用优化的时间相关介电击穿模型自动计算嵌入式金属-绝缘体-金属电容器的故障率、寿命外推和预测的可靠性
相关领域
电容器
外推法
随时间变化的栅氧化层击穿
可靠性（半导体）
介电强度
电介质
材料科学
绝缘体（电）
电子工程
计算机科学
电气工程
工程类
光电子学
数学
栅极电介质
统计
电压
物理
功率（物理）
晶体管
量子力学
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Konstantinos Efstathios Falidas; Maximilian Everding; Alison E. Viegas; M. Czernohorsky; Johannes Heitmann 出版日期：2023-10-01 |
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