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Semiconductor Bandgap Measurements: Overview of Optical, Electrical, and Device‐Level Techniques 半导体带隙测量:光学、电学和器件级技术概述
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期刊:Advanced Optical Materials 作者:Sanjay Sahare; Mykhailo M. Solovan; Andrii I. Mostovyi; Hryhorii P. Parkhomenko; Nora Schopp; et al 出版日期:2025 |
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