标题 |
![]() 用高分辨X射线衍射测定纳米结构铜中的位错、晶粒尺寸和平面缺陷及一种新的峰轮廓分析方法
相关领域
材料科学
位错
纳米晶材料
衍射
晶体孪晶
结晶学
铜
粒度
粒径
布拉格定律
粒子(生态学)
平面的
凝聚态物理
X射线晶体学
光学
微观结构
复合材料
纳米技术
冶金
物理
物理化学
化学
计算机科学
地质学
计算机图形学(图像)
海洋学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Acta Materialia 作者:T Ungár; S Ott; P.G Sanders; A Borbély; J.R Weertman 出版日期:2002-07-26 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|