Properties of high-temperature off-state currents in SOI MOSFETs derived from the diffusion mechanism

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标题	Properties of high-temperature off-state currents in SOI MOSFETs derived from the diffusion mechanism
网址	http://dx.doi.org/10.1109/hiten.1999.827468
DOI	10.1109/hiten.1999.827468 doi
其它	期刊：HITEN 99. Third European Conference on High Temperature Electronics. (IEEE Cat. No.99EX372) 作者：T. Rudenko; V. Lysenko; V. Kilchytska; A. Rudenko; J.-P. Colinge 出版日期：暂无
求助人	111 在 2026-10-09 17:40:30 发布自陕西，悬赏 10 积分
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